• Anglický jazyk

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Autor: Sandeep K. Goel

Na objednávku

109.80 €

bežná cena: 122.00 €

O knihe

  • Vydavateľstvo: CRC Press
  • Rok vydania: 2017
  • Formát: Paperback
  • Rozmer: 234 x 156 mm
  • Jazyk: Anglický jazyk
  • ISBN: 9781138075771

Generuje redakčný systém BUXUS CMS spoločnosti ui42.