-
Anglický jazyk
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Autor: Sandeep K. Goel
Na objednávku
109.80 €
bežná cena: 122.00 €
O knihe
- Vydavateľstvo: CRC Press
- Rok vydania: 2017
- Formát: Paperback
- Rozmer: 234 x 156 mm
- Jazyk: Anglický jazyk
- ISBN: 9781138075771
Nemecký jazyk