-
Anglický jazyk
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Autor: Eugene R. Hnatek
1 kus skladom u vydavateľa Posielame do 7-10 dní
104.49 €
bežná cena: 109.99 €
O knihe
- Vydavateľstvo: Springer US
- Rok vydania: 1993
- Formát: Hardback
- Rozmer: 241 x 160 mm
- Jazyk: Anglický jazyk
- ISBN: 9780442006433
Nemecký jazyk