Dispositivo de alineación de muestras para un difractómetro de rayos x

Vydavateľstvo: Editorial Académica Española
Rok vydania: 2017
Formát: Paperback
Rozmer: 220 x 150 mm
Jazyk: Španielsky jazyk
ISBN: 9783639538571

Autor: Daniel Santiago Jiménez Novoa

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bežná cena: 37.00 €

O knihe

Este proyecto está enfocado en mejorar los análisis de difracción de rayos X de los diferentes tamaños de muestras de materiales, a través del diseño y la fabricación de un dispositivo mecánico que controla la posición de la probeta, logrando una orientación precisa con respecto al haz de rayos X, esto beneficia al sector industrial en el desarrollo de nuevos proyectos con materiales al mejorar el desempeño de los mismos. El dispositivo requiere de la integración de distintos elementos mecánicos y electrónicos adicional a conocimientos en el área de control y programación para lograr su correcto funcionamiento, con un alto grado de precisión necesario para garantizar la posición de la muestra, a partir del diseño y la buena elección de los materiales en la fabricación.