• Anglický jazyk

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3

Autor: Samuel H Cohen

Na objednávku, dodanie 2-4 týždne

148.49 €

bežná cena: 164.99 €

O knihe

  • Vydavateľstvo: Springer Us
  • Rok vydania: 1999
  • Formát: Hardback
  • Rozmer: 251 x 165 mm
  • Jazyk: Anglický jazyk
  • ISBN: 9780306462979

Generuje redakčný systém BUXUS CMS spoločnosti ui42.