• Anglický jazyk

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Autor: D. K. Bowen

Na objednávku, dodanie 2-4 týždne

98.61 €

bežná cena: 103.80 €

O knihe

  • Vydavateľstvo: CRC Press
  • Rok vydania: 2019
  • Formát: Paperback
  • Rozmer: 246 x 174 mm
  • Jazyk: Anglický jazyk
  • ISBN: 9780367400637

Generuje redakčný systém BUXUS CMS spoločnosti ui42.